Article : [ART437]

Titre : S. AZZOPARDI, E. WOIRGARD, J.-M. VINASSA, O. BRIAT, C. ZARDINI, IGBT Power modules thermal characterization : what is the optimum between a low current - high voltage or a high current - low voltage test condition for the same electrical power?, Microelectronics Reliability, Volume 43, Issues 9-11, October 2003, pp. 1901-1906.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.
Cité dans :[REVUE435] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 43, Issues 9-11, Pages 1351-1968, September-November 2003.
Cité dans : [ART558]  S. AZZOPARDI, E. WOIRGARD, J.-M. VINASSA, O. BRIAT, C. ZARDINI, IGBT Power modules thermal characterization : what is the optimum between a low current - high voltage or a high current - low voltage test condition for the same electrical power?, ESREF'2
Cité dans : [DIV289]  Recherche sur l'auteur Christian ZARDINI, juillet 2004.
Cité dans : [DIV432]  Recherche sur l'auteur Stéphane AZZOPARDI, juillet 2004.
Cité dans : [DIV441]  Recherche sur l'auteur Eric WOIRGARD, juillet 2004.

Vers : Bibliographie
Adresse : Laboratoire I.X.L. - ENSEIRB - Université Bordeaux 1, 351 Cours de la Libération, 33405, Talence Cedex -, France
Source : Microelectronics Reliability
Volume : 43
Issues : 9-11
Date : October 2003
Pages : 1901 - 1906
Lien : private/AZZOPARDI2.pdf - 1062 Ko, 6 pages.
Switches :
Puissance :
Logiciel :
Stockage :

Abstract :

Bibliographie

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