R. HULL, "Properties of crystalline silicon", EMIS datareviews ser. 20, 05-1999, 1000 pages.
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Livre : [LIVRE211]

Titre : R. HULL, Properties of crystalline silicon, EMIS datareviews ser. 20, 05-1999, 1000 pages.

Cité dans : [DATA211] Recherche d'informations sur les diodes SCHOTTKY, novembre 2000.
Auteur : Robert HULL, PROFESSOR ROBERT HULL; DEPARTMENT OF MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING; UNIVERSITY OF VIRGINIA; CHARLOTTESVILLE, VIRGINIA

Stockage : Bibliothèque LMP
Date : 05 - 1999
Pages : 1 - 1000
Format : 21x28
Lien : Crys-sil/Fichiers/em020.jpe - image, 36 Ko.
Lien : Crys-sil/Contents.htm - Contents.
Lien : Crys-sil/crys_1.htm - FOREWORD.
Lien : Crys-sil/crys_2.htm - INTRODUCTION.
Lien : Crys-sil/crys_3.htm - CONTRIBUTING AUTHORS.
Lien : Crys-sil/crys_4.htm - ABBREVIATIONS.
Lien : Crys-sil/crys_sil.htm - CONTENTS.
Lien : Crys-sil/DaRewiew.htm - DATAREVIEW.

Résumé :
This book brings together the specialized expertise of over 100 invited authors
from the USA, Japan and Europe coordinated by 18 chapter editors to
concisely review properties of silicon in a structured way.

Prix : 2539.00 FRF, soit 387.07 euros

Thèmes du livre:
Structure électronique - Propriétés électriques et magnétiques (Semi-conducteurs, supraconductivité, transport et diffusion électronique, relaxation magnétique et résonance)

em020.jpe - 35.6 Ko.

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