21 janvier 2003 : 1ère réunion de l'AS « Mécanismes de dégradation des dispositifs à semiconducteurs composés III-V et SiGe - Impact sur la sécurité de fonctionnement et la fiabilité» au laboratoire IXL (Université Bordeaux 1)

27 février 2003 : Réunion du comité de pilotage du RTP