Fiche : [DIV293]

Titre : Recherche sur l'auteur Krishna SHENAI, mars 2004.

Cité dans : [DIV096]  Recherches bibliographiques diverses, janvier 2019.

Lien : Shenai.htm - Faculty Profile of Prof. Shenai, le 3 décembre 2001.

Vers : Ajout de mars 2004
Vers : Recherche du 8 décembre 2001 (maison)

Recherche du 8 décembre 2001 (maison)

  [1] : [99ART109] SHENAI K., HENNESSY W., CHEZZO M., A novel trench planarization technique using polysilicon refill, polysilicon oxidation, and oxide etchback, ISPSD'91.
  [2] :  [PAP481]  S. AZZOPARDI, M. TRIVEDI, C. ZARDINI, K. SHENAI, A Punch-Through IGBT Model Using a Simple Technological Parameters Extraction Method for Two-Dimensional Physical Simulation, EPE'99.
  [3] :  [PAP408]  N. Keskar, M. Trivedi and K. Shenai, Device reliability and robust power converter development, Volume 39, Issues 6-7, June - July 1999, pp. 1121-1130.
  [4] :  [PAP378]  K. Shenai, High-Power Robust Semiconductor Electronics Technologies in the New Millennium, pp.  0-0, THERMINIC'2001
  [5] :  [PAP479]  S. AZZOPARDI, J.-M. VINASSA, C. ZARDINI, Behaviour of Fast and Ultra-Fast 600V Punch-Through IGBT under Unclamped Inductive Switching Stress, EPE'99.

  [6] : [REVUE172] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issues 6-7, Pages 721-1170, June - July 1999.
  [7] :  [DIV289]  Recherche sur l'auteur Christian ZARDINI, juillet 2004.
  [8] : [99DIV076] EPE'99, European Conference on Power Electronics and Applications, Lausanne, Suisse, 7-9 septembre 1999.
  [9] : [LIVRE025] R. BAUSIERE, F. LABRIQUE, G. SEGUIER, Volume 3. La conversion continu-continu, éditions TEC & DOC, 1997.
 [10] :  [PAP374]  S. AZZOPARDI, A. KAWAMURA, H. IWAMOTO, O. BRIAT, J.M. VINASSA, E. WOIRGARD, C. ZARDINI, Local lifetime control IGBT structures : Turn-off performances comparison for hard- and soft-switching between 1200V trench PT- and new planar PT-IGBTs, ESREF'2001,
 [11] :  [DIV250]  THERMINIC'2001, Foreword thermal investigations of ICs and systems, Paris, France, 24-27 septembre 2001.
 [12] :  [DATA196] ESREF'99, Proceedings of the 10th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis.
 [13] :  [DIV137]  Recherche sur les mots clés : FIABILIT* ou RELIABILITY, octobre 1999.
 [14] :  [DATA041] Conférence ISPSD'91, Third Internationnal Symposium on Power Semiconductor Devices & ICs, Baltimore MD, April 22-24 1991.

Ajout de mars 2004

  [1] :  [PAP378]  K. Shenai, High-Power Robust Semiconductor Electronics Technologies in the New Millennium, pp.  0-0, THERMINIC'2001
  [2] :  [ART513]  K. SHENAI, High-power robust semiconductor electronics technologies in the new millennium, Microelectronics Journal, Vol. 32, No. 5-6, May 2001, pp. 397-408.
  [3] :  [ART532]  Semiconductor technologies for high-power electronics in the new millennium.

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