Article : [PAP408]
Titre : N. Keskar, M. Trivedi and K. Shenai, Device reliability and robust power converter development, Volume 39, Issues 6-7, June - July 1999, pp. 1121-1130.
Cité dans :[REVUE172] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issues 6-7, Pages 721-1170, June - July 1999. Cité dans : [DATA196] ESREF'99, Proceedings of the 10th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis.Auteur : N. Keskar
Lien : private/KESKAR.pdf - 10 pages, 688 Ko.
Pages : 1121-1130
Volume : 39
Issues : 6-7
Date : June - July 1999
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 54 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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