Article : [SHEET337]
Titre : Y.H. PAO, R. GOVILA, An Experimental and Finite Element Study of Thermal Fatigue Fracture of Pb-Sn Solder Joints, ASME Journal of Electronic Packaging, 1993, vol. 115, pp. l-8.
Cité dans : [DIV334] Recherche sur les mots clés power cycling of power device, mai 2002. Cité dans :[PAP035] Cité dans :[SHEET321]Auteur : Pao Y.H
Lien : SHEET321.HTM#Bibliographie - référence [8].
Stockage : Thierry LEQUEU, le 31 mai 2000.
Source : ASME Journal of Electronic Packaging.
Volume : 115
Pages : 1 - 8
Date : 1993
Logiciel : oui
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.
Copyright 2023 : |
Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.