D.E. PICCONE, I.L. SOMOS, "Accelerated life tests for determining life expectancy of thyristors due to di/dt failure modes", IEEE / IGA, Conference Record, 1971.
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Titre : D.E. PICCONE, I.L. SOMOS, Accelerated life tests for determining life expectancy of thyristors due to di/dt failure modes, IEEE / IGA, Conference Record, 1971.

Cité dans : [DATA042] Recherche sur l'auteur Istvan SOMOS, mars 2000.
Cité dans : [DATA049] Recherche sur l'auteur Dante E. PICCONE, mars 2000.
Cité dans :[SHEET205]
Cité dans :[SHEET196]
Auteur : D.E. Piccone
Auteur : I.L. Somos,

Lien : SHEET196.HTM#Bibliographie - référence [16]
Source : IEEE / IGA, Conference Record
Année : 1971
Stockage : (non possédé INIST, le 16 mai 2000).

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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