Article : [SHEET257]
Info : INSPEC Answer Number 9, le 16/03/2000.
Cité dans : [DATA050] Recherche sur l'auteur S. JANUSZEWSKI Cité dans :[SHEET155]Titre : S. JANUSZEWSKI, M. KOCISZEWSKA-SZCZERBIK, Semiconductor power devices failures in converter circuits, 1993.
Cité dans : [DATA050] Recherche sur l'auteur S. JANUSZEWSKIAuteur : Januszewski, S.
Lien : SHEET155.HTM#Bibliographie - référence [9]
Source : Prace Instytutu Elektrotechniki (1993) vol.41, no.174.
Année : 1993
Pages : 57 - 69
References : 18 refs.
CODEN : PIELA4
ISSN : 0032-6216
Document_Type : Journal
Treatment_Code : Practical
Info : Country of Publication : Poland
Language : Polish
Stockage :
Abstract :
Failure catastrophic mechanisms of power semiconductor devices, in
particular GTO thyristors, are discussed. These failures are raised in
known circumstances during laboratory simulation of converter damage
states to verify the correctness of the action of the designed protection
systems. Photographs of destroyed thyristor structures in various
conditions are given.
Accession_Number : 1993:4551728
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