Article : [PAP427]
Titre : C.G. Shirley, C.E.C. Hong, Optimal Acceleration of Cyclic THB Tests for Plastic Packaged Devices, 91012.
Cité dans : [CONF024] IRPS, International Reliability Physics Symposium, août 2004. Cité dans :[PAP360]Auteur : Shirley, C.G.
Site : http://www.irps.org
Lien : IRPS/SRI8597/term.pdf - 624 Ko, SECTION 2 - INDEX OF (EXTENDED) TERMS WITH PAPER TITLES - pp. 49-190
Acceleration model for cyclic THB test
Corrosion reliability model for cyclic THB test
Failure rate model for cyclic THB test
Optimal acceleration in cyclic THB test
Plastic IC acceleration model for cyclic THB test
Plastic IC reliability in cyclic THB test
Plastic defect-caused corrosion in cyclic THB test
Plastic defect-caused corrosion in cyclic THB test
Plastic defect-caused failures in cyclic THB test
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 54 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.
| Copyright 2023 : | |
Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.