Article : [PAP402]
Titre : L. Galateanu, M. G. Stoica and E. Popa, Strain depending reliability of automotive diodes, Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, 8 June 1998, pp. 1331-1334.
Cité dans :[REVUE253] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, Pages 851-1366, 8 June 1998. Cité dans : [DATA233] ESREF'98, Proceedings of the 9th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 5-9 October 1998.Auteur : L. Galateanu, M. G. Stoica and E. Popa
Lien : private/GALATEANU.pdf - 4 pages, 268 Ko.
Pages : 1331-1334
Volume : 38
Issues : 6-8
Date : 8 June 1998
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