Fiche : [DATA154]

Titre : Recherche sur l'auteur W. WEIBULL, août 2000.

Cité dans : [DIV096]  Recherches bibliographiques diverses, janvier 2019.

Recherche LMP du mardi 22 août 2000

  [1] : [SHEET402] Weibull Statistics in Short6term DIelectric Breakdown of Thin Polyethylene Films
  [2] : [SHEET345] S.S. MANSON, Fatigue: A complex subject - Some simple approximations, Experimental Mechanics, vol. 5, pp.193-226, 1965.
  [3] : [SHEET145] S.F. POPELAR, Parametric study of flip chip reliability based on solder fatigue modelling, 1997.
  [4] : [SHEET142] F.S. POPELAR, Parametric study of flip chip reliability based on solder fatigue modelling: Part II - flip chip on organic, 1998 International Symposium on Microelectronics,  Nov. 1998, pp. 497-504.
  [5] :  [DIV159]  O. GAUDOIN, P. OZIL, Statistiques appliquées, fascicules I, 1997, 64 pages.
  [6] :  [DIV160]  O. GAUDOIN, P. OZIL, Statistiques appliquées, fascicules II, 1997, 121 pages.

Lien : private/FIAB5.doc - 229 Ko, 13 pages, version du 28 août 2000.
Lien : private/FIAB6.doc - 256 Ko, 14 pages, version du 11 septembre 2000.

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