Article : [SHEET402]

Titre : Weibull Statistics in Short6term DIelectric Breakdown of Thin Polyethylene Films

Auteur : Mario Cacciari
Auteur : Giovanni Mazzanti
Auteur : Gian Carlo Montanari

Equipe : University of Trieste and University of Bologna, Italy
Revue : IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation
Volume : 1
Numéro : 1
Date : FEBRUARY 1994
Pages : 153 - 159

Stockage : Slimane OUSSALAH
Mots_clef : oxide, dielectric, reliability testing, breakdown, electrical characterization

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