Article : [SHEET288]

Titre : Matsuda H. et al., Analysis of GTO failure mode during DC voltage blocking, , ISPSD'94 Davos(Switzerland), May 31-June 2 1994, pp. 221-225.

Cité dans : [CONF007] ISPSD, Internationnal Symposium on Power Semiconductor Devices & Integrated Circuits
Cité dans :[SHEET155]

Lien : SHEET155.HTM#Bibliographie - référence [18]
Stockage : Thierry LEQUEU
Lien : private/MATSUDA1.pdf - 378 Ko.
Source : Power Semiconductor Devices and ICs, 1994., Proceedings of the 6th International Symposium on
Pages : 221 - 225
Date : 31 May-2 June 1994
ISBN : 3-89191-784-8
Info : IEEE Catalog Number: 94CH3377-9
Info : Total Pages : xv+436
References : 1
Accession_Number : 4922944

Abstract :
GTOs suddenly failed without any leakage current increase before
the failure event, during DC voltage blocking. From various
experiments and the analysis, we have come to the inference that
the GTO failure was caused by cosmic-rays at sea level. The
failure rate of the improved GTOs decreases by more than one
order.

Subject_terms :
thyristors; GTO failure mode; DC voltage blocking; failure event;
cosmic-rays; sea level; failure rate

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