Article : [SHEET246]

Info : COMPENDEX Answer Number 3, le 16/03/2000.

Titre : S. JANUSZEWSKI, Non-destructive method for determination of overload capacity of high power semiconductor devices, 1982

Cité dans : [DATA050] Recherche sur l'auteur S. JANUSZEWSKI

Meeting : 10th World Conference on Non-Destructive Testing.
Location : Moscow, USSR
Date : 23 Aug 1982-27 Aug 1982
Source : v 5 1D-19, p 92-99
Année : 1982
Meeting_Number : 03813
Document_Type : Conference Article
Language : English
Stockage : non posséde INIST (09/05/2000) : recherche annulée

Abstract :
No abstract available

Accession_Number : 1984(5):89032

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