I.L. SOMOS, L.O. ERIKSSON, W.H. TOBIN, "Understanding di/dt ratings and life expectancy for thyristors", Power Conversion And Intelligent Motion, pp. 56-59, February 1986.

I.L. SOMOS, L.O. ERIKSSON, W.H. TOBIN, "Understanding di/dt ratings and life expectancy for thyristors", Power Conversion And Intelligent Motion, pp. 56-59, February 1986. Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

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Titre : I.L. SOMOS, L.O. ERIKSSON, W.H. TOBIN, Understanding di/dt ratings and life expectancy for thyristors, Power Conversion And Intelligent Motion, pp. 56-59, February 1986.

Cité dans : [DATA042] Recherche sur l'auteur Istvan SOMOS, mars 2000.
Cité dans :[SHEET169]
Cité dans :[SHEET196]
Cité dans :[PAP370]

Auteur : Istwan L. Somos, Somos Electra.
Auteur : L.O. Erikssonn, General Electric CO.
Auteur : William H. Tobin, General Electric CO.

Lien : SHEET169.HTM - référence [4].
Lien : SHEET196.HTM - référence [17].
Lien : PAP370.HTM - référence [2].
Pages : 56 - 59
Date : February 1986
Stockage : Thierry LEQUEU

References : 4
[1] : Recommended standards for thyristors are IEC 147-2 and JEDEC RS 397 as continually updated.
[2] : D.E. PICCONE, I.L. SOMOS, "Are you confused by high di/dt SCR ratings ?", The Electronic Engineer, jan. 1969, pp. 89-92.
[3] : D.E. PICCONE, I.L. SOMOS, "Accelerated life tests for determining the life expectancy of thyristors due to di/dt failure modes", IEEE Industry Applications Society 1972 Conference Record, pp. 89-92.
[4] : I.L. SOMOS, D.E. PICCONE, "Temperature excursion in thyristors due to short current pulses ...", IEEE/IAS Annual Meeting, 1974, conference record, pp. 495-506.

  [1] :  [PAP158]  -------
  [2] : [SHEET229] D.E. PICCONE, I.S. SOMOS, Are you confused by high di/dt SCR ratings?, Electronic Engineer, Jan. 1969, vol. 28, no. 1, pp. 89-92.
  [3] : [SHEET205] D.E. PICCONE, I.L. SOMOS, Accelerated life tests for determining the life expectancy of thyristors due to di/dt failure modes, IEEE Industry Applications Society 1972 Conference Record, pp. 89-92.
  [4] : [SHEET235] I.L. SOMOS, D.E. PICCONE, Temperature excursion in thyristors due to short current pulses during forward conduction and reverse recovery phase, IAS, 1974.

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