Revue : [REVUE314]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 35, Issue 4, Pages 637-757 (April 1995.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 35, Issue 4,
Pages : 637-757 (April 1995)
Export Citations
checked docs: display checked docs

[1] : Environmental stress screening strategies for complex systems: a 3-level
mixed distribution model, Pages 637-656
Edward A. PohlDuane L. Dietrich
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (630 K)

[2] : Quality assessment models for initial production process control based on
stochastic differential equations, Pages 657-668
Mitsuhiro Kimura, Shigeru Yamada, Hiroaki Tanaka, Tohru Nagaike and Shunji
Osaki
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (350 K)

[3] : Modeling for stuck faults in CMOS Non-Threshold Logic (NTL) combinational
circuits, Pages 669-681
Asad A. Ismaeel and Rakesh Bhatnagar
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (427 K)

[4] : A machine service model with a service station consisting of r unreliable
units, Pages 683-690
Bin Liu and Jinhua Cao
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (202 K)

[5] : System characteristic and cost analysis of a two unit standby system with
spare units, Pages 691-698
G. K. AgrafiotisS. K. Singh
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (235 K)

[6] : Determination of reliability density function when the failure rate is a
random variable, Pages 699-701
V. S. S. YadavalliN. Singh
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (96 K)

[7] : Bayesian approach to prediction with outliers from the Burr type X model,
Pages : 703-705
Zeinhum F. Jaheen
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (157 K)

[8] : Some reliability problems arising in GI/G/1 queueing system with
repairable service station, Pages 707-712
Yinghui Tang
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (240 K)

[9] : Reliability issues for III-V heterojunction bipolar transistors, Pages
713-724
K. P. Roenker
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (981 K)

[10] : An additional space special service facility heterogeneous queue, Pages
725-730
K. K. BansalR. L. Garg
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (248 K)

[11] : A study of optical noise measurement as a reliability estimation for laser
diodes, Pages 731-734
Yisong Dai, Jiesung Shi and Xinfa ZhangJiawel ShiEnsun Jin
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (204 K)

[12] : Two reduced formulas for reliability evaluation of three-state device
networks, Pages 735-737
Li Dong-KuiChi Hang-Zhong
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (159 K)

[13] : A cold standby system with arrival time of server and correlated failures
and repairs, Pages 739-742
L. R. Goel, P. K. Tyagi and Rakesh Gupta
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (139 K)

[14] : Function process and reliability analysis of a two-dependent-unit system,
Pages : 743-747
Wu Shao-Ming
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (196 K)

[15] : Analysis of a two unit redundant system with optimum interchangement time,
Pages : 749-750
R. K. Agnihotri and S. K. Satsangi
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (87 K)

[16] : Standby redundancy at system and component levels--a comparison, Pages
751-752
C. Senthil Kumar
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (67 K)

[17] : Profit analysis of two-unit standby system with rest period for the
operator and correlated failures and repairs, Pages 753-757
Vinay Kumar Tyagi
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (191 K)

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 56 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.

Copyright 2023 :

Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.