Revue : [REVUE315]
Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 35, Issue 5, Pages 777-874 (May 1995.
Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.Auteur : Elsevier Science
Volume : 35, Issue 5,
Pages : 777-874 (May 1995)
Export Citations
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[1] : Biased estimates of variance components, Pages 777-782
Adel Magid M. Shaban
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (184 K)
[2] : An improved algorithm for cutset evaluation from paths, Pages 783-787
Hendrik Schäbe
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (146 K)
[3] : Simulation study of a priority queueing system, Pages 789-796
V. S. S. Yadavalli and C. Umasankaram
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (212 K)
[4] : A new technique for active minimal cut set selection used in substation
reliability evaluation, Pages 797-805
Roy Billinton and Guangbin Lian
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (404 K)
[5] : A high-quality cross-sectional transmission electron microscope specimen
preparation technique for structural and interfacial property studies in
microelectronic packaging, Pages 807-815
M. R. Marks, Qin Wei, Wang Jiaji and Chen Yi
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (746 K)
[6] : Bayes estimation of P(Y > X) in the geometric case, Pages 817-820
K. E. Ahmad, M. E. Fakhry and Z. F. Jaheen
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (207 K)
[7] : Study of hot electron degradation in submicrometer gate length MOS
transistor fabricated with selectively doped substrate engineering, Pages
821-826
P. N. Andhare, R. K. Nahar and S. Chandra
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (284 K)
[8] : The structural reliability of cable television, Pages 827-828
Ladislav Schwartz and Duan Trstenský
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (68 K)
[9] : Probabilistic analysis of a two-unit cold standby system with instructions
at need, Pages 829-832
Ashok Kumar, Suresh K. Gupta and Gulshan Taneja
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (185 K)
[10] : Behaviour of a priority standby redundant system with different types of
repair facilities, Pages 833-836
J. P. Singh Joorel and Y. S. ParmarPour Darvish Heydari
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (189 K)
[11] : Gert analysis of a two-unit cold standby system with repair, Pages 837-840
Gauri Shankar and Vandana Sahani
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (222 K)
[12] : Two-sided bounds of reliability for large systems, Pages 841-845
Sergey V. Gurov, Lev V. Utkin and Igor B. Shubinsky
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (247 K)
[13] : A simple ordering policy with linear lifetime for a unit, Pages 847-849
V. Sridharan
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (119 K)
[14] : Probabilistic analysis of a n-unit cold-standby system with general
failure and repair time distributions, Pages 851-857
M. N. GopalanU. Dinesh Kumar
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (351 K)
[15] : Reliability analysis of a finite range failure model, Pages 859-862
S. A. Siddiqui and Shiva Mishra
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (146 K)
[16] : Salvaging solder joints accidentally exposed to nitric acid: a case study,
Pages : 863-864
N. R. Rajopadhye and P. Dhar
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (126 K)
[17] : An algorithm for evaluating all the minimal cuts of a graph, Pages 865-867
Brijendra Singh
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (164 K)
[18] : Two non-identical operative unit system with repair and inspection, Pages
869-874
R. K. Agnihotri, S. K. Satsangi and S. C. Agrawal
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (158 K)
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