L. Fratelli, B. Cascone, G. Giannini and G. Busatto, "Long term Reliability Testing of HV-IGBT modules in worst case traction operation", Volume 39, Issues 6-7, June - July 1999, pp. 1137-1142.
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Titre : L. Fratelli, B. Cascone, G. Giannini and G. Busatto, Long term Reliability Testing of HV-IGBT modules in worst case traction operation, Volume 39, Issues 6-7, June - July 1999, pp. 1137-1142.

Cité dans :[REVUE172] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issues 6-7, Pages 721-1170, June - July 1999.
Cité dans : [DATA196] ESREF'99, Proceedings of the 10th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis.
Auteur : L. Fratelli
Auteur : B. Cascone
Auteur : G. Giannini
Auteur : G. Busatto

Lien : private/FRATELLI.pdf - 6 pages 548 Ko.
Pages : 1137-1142
Volume : 39
Issues : 6-7
Date : June - July 1999

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