Article : [PAP399]
Titre : P. Jansson, Experimental design and evaluation of interconnection materials for improvement of joint reliability at power transistors, Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, 8 June 1998, pp. 1297-1300.
Cité dans :[REVUE253] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 38, Issues 6-8, Pages 851-1366, 8 June 1998. Cité dans : [DATA233] ESREF'98, Proceedings of the 9th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, 5-9 October 1998.Auteur : P. Jansson
Lien : private/JANSSON.pdf - 4 pages, 196 Ko.
Pages : 1297-1300
Volume : 38
Issues : 6-8
Date : 8 June 1998
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 54 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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