D. Lewis, V. Pouget, T. Beauchene, H. Lapuyade, A. Touboul, F. Beaudoin, P. Perdu, "Backside and front side picosecond OBIT mapping on ICs, Application for single event transient studies", ESREF'2001, pp. 1471-1476

D. Lewis, V. Pouget, T. Beauchene, H. Lapuyade, A. Touboul, F. Beaudoin, P. Perdu, "Backside and front side picosecond OBIT mapping on ICs, Application for single event transient studies", ESREF'2001, pp. 1471-1476 Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

Article : [PAP366]

Titre : D. Lewis, V. Pouget, T. Beauchene, H. Lapuyade, A. Touboul, F. Beaudoin, P. Perdu, Backside and front side picosecond OBIT mapping on ICs, Application for single event transient studies, ESREF'2001, pp. 1471-1476

Cité dans : [DATA227] ESREF'2001, 12th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Arcachon, France , 1-5 octobre 2001.
Cité dans :[REVUE279] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 41, Issues 9-10, Pages 1273-1736, September - October 2001.

Auteur : D. Lewis (1)
Auteur : V. Pouget (2)
Auteur : T. Beauchene (1)
Auteur : H. Lapuyade (1)
Auteur : A. Touboul (1)
Auteur : F. Beaudoin (1)
Auteur : P. Perdu (2)
Adresse : (1) IXL, University of Bordeaux, (2) CNES - France

Source : ESREF'2001 - 12th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - Arcachon - France.
Date : 1-5 octobre 2001
Site : http://www.elsevier.com/locate/microrel
Pages : 1471 - 1476
Lien : private/LEWIS.pdf - 6 pages, 235 Ko.

Abstract :
A new experimental set-up dedicated to front side and backside picosecond OBIC testing is presented.
Applications for fundamental study of integrated circuits are presented. Front side and backside OBIC images of
an analog integrated circuit show the potentiality and the suitability of this new equipment an methodology for
laser testing of VLSI circuits.

Bibliographie

Références : 6
[1] : Stamm U, Bergner H, Hempem K and Krause A. Techniques for Picosecond OBIC Measurements on ICs, Microelectronic Engineering., vol 16, 275-286, 1992
[2] : Pouget V, Lapuyade H, Lewis D , Fouillat P , Sarger L. Elaboration of a New Pulsed Laser System for SEE Testing. Proc. of 4th IEEE International On-Line Testing Workshop, Capri (Italy), 4-6 July1998.
[3] : Pouget V, Lewis D, Lapuyade H, Briand R, Fouillat P, Sarger L,. Calvet M-C. Validation of Radiation Hardened Designs by Pulsed Laser Testing and SPICE Analysis. Microelectronics Reliability, vol. 39, p. 931-935, 1999.
[4] : Pouget V, Fouillat P, Lewis D, Lapuyade H, Darracq F, Touboul A. Laser Cross Section Measurement for the Evaluation of Single-Event Effects in Integrated Circuits. Microelectronics Reliability, vol. 40, p. 1371-1375, 2000.
[5] : Lewis D, Pouget V, Beaudoin F, Perdu P, Lapuyade H., Fouillat P., Touboul A. Backside Laser Testing of ICs for SET Sensitivity Evaluation. proc of NSREC 2001, Vancouver, Canada.
[6] : Adell P, Schrimpf RD, Barnaby HJ, Marec R, Chatry C, Calvel P, Barillot C, Moi O. Analysi of single event transient in analog circuits. IEEE Trans. Nucl. Sc., vol 47-6, 2616-2623, 2000.

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