Livre : [LIVRE262]
Titre : W. KOU, R. PRASAD, F.A. TILLMAN, C.-L. HWAMG, Optimal Reliability Design: Fundamentals and Applications,Cambridge University Press, Cambridge, 2001, 389 pages.
Cité dans :[REVUE218] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 41, Issue 4, Pages 481-624, April 2001. Cité dans :[LIVRE063]Auteur : Way Kuo
Source : Cambridge University Press, Cambridge
Date : 2001
Pages : 1 - 389 + XXI pp.
ISBN : 0-521-78127-2 (hardbound)
Lien : private/JEVTIC.pdf - 34 Ko, Milan Jevti, pp. 623-624.
Source : Cambridge University Press, Cambridge, 2001, 389+XXI pp. ISBN: 0-521-78127-2 (hardbound),
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