Fiche : [DIV445]

Titre : Department of Defense - United States of America, MIL-STD-750D - Test Method Standard - Semiconductor devices, 4th edition, 28 February 1995.

Cité dans :[99DIV041] Liste des normes de l'AFNOR, l'U.T.E., de l'ISO, de l'UIC, normes CEM, VDE et MIL STD, septembre 2008.
Cité dans :[PAP360]
Cité dans :[ART538]

Info : Test Method Standard - Semiconductor devices - MIL-STD-750D
Edition : 4th
Date : 28 February 1995

- MIL STD 750D méthode 3151 (méthode générale)
- MIL STD 750D méthode 3101.2 (redresseurs)
- MIL STD 750D méthode 3181 (thyristors)

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