JNRDM'2002, "5e Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique", Grenoble, 23-25 avril 2002.

JNRDM'2002, "5e Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique", Grenoble, 23-25 avril 2002. Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

Fiche : [DIV319]

Titre : JNRDM'2002, 5e Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, Grenoble, 23-25 avril 2002.

Cité dans : [CONF018] JNRDM, Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, décembre 2002.
Cité dans : [DIV003]  Liste des actes de congrès par années, février 2003.
Cité dans : [DATA224] Liste alphabétique des conférences, août 2016.
Cité dans :[99DIV081] Dates des congrès sur les Convertisseurs Statiques, avril 2013.

Lieu : Grenoble
Date : 23-25 avril 2002
Site : http://www.jnrdm.org
Site : http://www.cime104.cime.inpg.fr/jnrdm/
Lien : jnrdm/2002/default.htm - le 10 mars 2002.

Sommaire

Session I - Technologie des Matériaux
Info : 33 papiers
Céline BONDOUX, "Films mince d'oxyde de magnésium par procédé sol-gel", CEA - Le Ripault, pp. 14-15.
Delphine VAUTIER, "Elaboration de films minces diélectriques par procédé sil-gel", CEA - Le Ripault, pp. 70-71.

Session II - Nanostructures et Microsystèmes
Info : 25 papiers

Session III - Caractérisation et Modélisation
Info : 35 papiers
Karine CASTELLANI, "Recherche des paramêtres déterminants pour la prévision des aléas logiques induits par les protons et les neutrons sur les technologies CMOS avancées", pp. 132-133. (ISE 3D)
T. CONTARET, "Etude des méthodes de calcul du logiciel ISE-TCAD sur les dispositifs semi-conducteurs pour la simulation du bruit de fond dans les transistor MOS", pp. 136-137

Stéphane MOREAU, "Fiabilite des TRIACs par chocs thermiques dus aux forts di/dt a la fermeture", LMP - STMicroelectronics, pp. 182-183.

  [1] :  [ART164]  S. MOREAU, S. FORSTER, Fiabilité des TRIACs par chocs thermiques dus aux forts di/dt à la fermeture, JNRDM'2002, Grenoble, 23-25 avril 2002, pp. 182-183.

David TREMOUILLES, "Conception et optimisation de circuits robustes aux décharges électrostatiques ; vers la fiabilité prédictive", ON Semiconductor, pp. 194-195.
Cf J.M. BOSC
Lien : DATA125.HTM - ISPSD'2000.
Lien : SHEET382.HTM - son article.

  [1] :  [DATA125] ISPSD'2000, 12th Internationnal Symposium on Power Semiconductor Devices & Integrated Circuits, May 22-25 2000, Toulouse, France.
  [2] : [SHEET382] J.M. Bosc, I. Garcon, E. Huynh, P. Lance, I. Pages, J.M. Dorkel, G. Sarrabayrouse, Reliability characterization of LDMOS transistors submitted to multiple energy discharges, ISPSD'2000.

Session IV - Conception des Circuits Intégrés
Info : 33 papiers
Adbelhakim Bourennane, "Interrupteurs bidirectionnels commandés par MOS pour des applications domestiques", pp. 215-216. (LASS, M. BREIL, TRIAC)
Hilda DIAD, "Etude et réalisation d'un filtre de Sallen et Key", pp. 221-222. ([1] R.P. SALLEN, E.L. KEY, A Pratical Method of Designing RC Active Filters, IRE Transaction Circuit Theory, Vol. CT-2, 1995)

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