Article : [ART572]
Info : REPONSE 29, le 13/07/2004.
Titre : P.E. ROUGHAN, THERMAL RESISTANCE OF IC PACKAGES, 1973, pp. 96-99.
Cité dans : [DIV442] Recherche sur les mots clés THERMAL RESISTANCE, juillet 2004.Auteur : Roughan, P.E. (Sprague Electr Co, North Adams, Mass)
Source : Natl Electron Packag and Prod Conf, Proc of the Tech Program, Anaheim, Calif, Feb 20-22 1973, and New York, NY, Jun 5-7 1973 p 96-99. Publ by Ind and Sci Conf Manage, Inc, Chicago, Ill, 1973
Pages : 96 - 99
Année : 1973
Language : English
Stockage :
Switches :
Power :
Software :
Abstract :
Presented are experimental results obtained using a constant-temperature oil bath as the ambient for thermal resistance measurements of molded integrated circuit packages. The technique allows the rapid, reproducible determination of the maximum power-handling capabilities of most IC packages. The method is a valuable one for use either as a quality control tool, or for the comparison of the relative merits of different package types.
Accession_Number : 1974(11):4616 COMPENDEX
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