Article : [ART411]

Titre : T. LEQUEU, S. MOREAU, Automatisation d'un banc de test de TRIACs soumis à une contrainte en di/dt, FuturVIEW'2003, 12-13 juin 2003, Poitiers, France.

Cité dans : [CONF075] FuturVIEW, Conférence pour les utilisateurs du langage de programmation graphique LabVIEW, janvier 2005.
Cité dans : [DIV375]  FuturVIEW'2003, Premières Journées Francophones sur la Programmation Graphique pour la Mesure et l’Automatisation avec le langage LabVIEW, 12-13 juin 2003.
Cité dans : [DATA033] Liste des publications de Thierry LEQUEU et activités de recherche, octobre 2022.

Adresse : LMP - STMicroelectronics - 16, rue Pierre et Marie Curie - BP 7155 - 37071 TOURS CEDEX 1.
Lien : mailto:thierry.lequeu@univ-tours.fr
Lieu : ENSMA, Futuroscope, Poitiers.
Date : 12 et 13 juin 2003
Site : http://www.lisi.ensma.fr/FuturVIEW/
Lien : private/LEQUEU03.pdf - 837 Ko, 6 pages.

Vers : Bibliographie

Résumé : un banc de test de fiabilité de composants électroniques permet la mesure de la durée de vie des TRIACs vis-à-vis d'une contrainte électrique de type di/dt. Trois platines de 40 composants fonctionnent en parallèle. L'automatisation de la séquence de test permet le contrôle de la durée d'application de la contrainte et la mesure de l'évolution des caractéristiques électriques des composants. Une matrice de relais autorise la connexion d'un composant d'une platine au traceur de caractéristiques Tektronix 370A. L'ensemble est programmé sous LabVIEW version 6i et utilise une carte PCI-6503 de National Instrument et une interface GPIB.

Mots-clés : tests automatique, TRIAC, traceur Tektronix 370A, LabVIEW, PCI-6503, interface GPIB, commande de relais multiplexée.

Bibliographie

  [1] : [THESE109] S. FORSTER, Fiabilité fonctionnelle et mécanismes de dégradation des TRIACs soumis aux chocs thermiques par di/dt à la fermeture, Thèse, Université de Metz, 10 septembre 2001.
  [2] : [THESE121] S. MOREAU, Mécanismes de dégradation et fiabilité fonctionnelle des interrupteurs bidirectionnels tels que les TRIACs, rapport de DEA Génie Electrique de Grenoble, aout 2002.
  [3] : [LIVRE282] F. COTTET, LABVIEW - Programmation et applications, DUNOD, 2001, 432 pages.
  [4] : [LIVRE276] National Instrument, Manuel de référence de programmation en G, juillet 1998.
  [5] : [LIVRE277] National Instrument, DAQ - PCI-DIO96/PXI-6508/PCI6503 - User Manual, march 1998.
  [6] :  [DIV331]  T. LEQUEU, Prog. 05 - AUTOTESTS / Logiciel de pilotage des platines de test des TRIACS - Programmation LABVIEW, Documentation de programmation, avril 2002.
  [7] :  [DIV330]  S. MOREAU, A. FLORENCE, T. LEQUEU, Prog. 04 - MESURES / Logiciel de pilotage du traceur 370 Tektronix pour la mesure des caractéristiques d'un TRIAC - Programmation LABVIEW, Documentation de programmation, avril 2002.

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