Rapport : [THESE121]
Titre : S. MOREAU, Mécanismes de dégradation et fiabilité fonctionnelle des interrupteurs bidirectionnels tels que les TRIACs, rapport de DEA Génie Electrique de Grenoble, aout 2002.
Cité dans : [DATA033] Liste des publications de Thierry LEQUEU et activités de recherche, octobre 2022. Cité dans : [DIV121] Liste des rapports de stages IUT, DEA, P2I EIT, stages de fin d'études, avril 2013. Cité dans :[THESE090] S. MOREAU, Fiabilité environnementale des composants de puissance : le TRIAC, Thèse de Doctorat, soutenue le 17 mai 2005, 127 pages.Auteur : Stéphane MOREAU
Info : rapport de DEA Génie Electrique de Grenoble.
Pages : 1- 30
Date : aout 2002
Lien : private/MOREAU3.pdf - 4654 Ko, 48 pages.
Vers : Table des matières
Vers : Bibliographie
Résumé :
Les TRIACs sont des interrupteurs bidirectionnels en tension et en
courant rencontrés typiquement dans le contrôle de la puissance des
charges alternatives connectées sur les réseaux d'alimentation
électrique. Ils sont souvent protégés contre les dV/dt intempestifs du
réseau, par un CALC (Circuit d'Aide à La Commutation regroupant
généralement une résistance et un condensateur). Cependant la décharge
du condensateur du CALC à la fermeture du TRIAC résulte en de forts
di/dt, entraînant une destruction progressive du TRIAC.
Ce mémoire présente donc l'impact des forts di/dt, causés par la
décharge du condensateur du CALC, durant la fermeture d'un TRIAC dans le
quadrant 1 ou Q1 VAK > 0 et VGK > 0 via l'analyse statistique de la
défaillance des TRIACs, l'analyse des modes de défaillances physiques et
électriques et la réalisation de simulations numériques
thermoélectriques et thermomécaniques. L'auteur présente, au final, une
approche du mécanisme de dégradation des composants, responsable de leur
vieillissement.
Mots-clés : contrainte par di/dt, TRIAC, fiabilité, distribution de
Weibull, analyse de défaillance, mécanisme de dégradation, simulations
thermoélectriques et thermomécaniques.
Abstract :
A TRIAC (for "TRIode AC switch") is a device with bi-directional voltage
blocking capability and bi-directional current conduction capability,
commonly encountered in the control of power on the main supply. It is
often designed with a network made of a resistor Rs and a capacitor Cs,
the snubber circuit. This circuit protects the TRIAC against strong
dV/dt. Nevertheless, the discharging of the snubber circuit capacitor
during the turn-on of the TRIAC results in a strong di/dt, leading to a
progressive degradation of it. The report sums up the effect of the
di/dt thermal fatigue on the TRIACs' lifetime in the first quadrant or
Q1 (VAK > 0 and VGK > 0). A consistent degradation mechanism with
reliability results, physical and electrical failure modes and
thermoelectrical and thermomechanical simulations were proposed.
Keywords : stress by di/dt, TRIAC, reliability, Weibull distribution, failure analysis, failure mechanism, thermoelectrical and thermomechanical simulations.
Table des matières |
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