Article : [ART325]
Titre : R. Petersen, W. De Ceuninck, J. D'Haen, M. D'Olieslager, L. De Schepper,O. Vendier, H. Blanck, D. Pons, Exploring the limits of Arrhenius - based life testing with heterojunction bipolar transistor technology, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9 - 11, September-November 2002, pp. 1359 - 1363
Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002. Cité dans : [DIV312] ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.Auteur : R. Petersen, W. De Ceuninck, J. D'Haen, M. D'Olieslager, L. De Schepper,O. Vendier, H. Blanck and D. Pons
Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-13
Pages : 1359 - 1363
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (633 K)
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