Article : [ART324]
Titre : L. Tielemans, R. Rongen, W. De Ceuninck, How reliable are reliability tests?, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, September-November 2002, pp. 1339 - 1345
Cité dans :[REVUE377] Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 42, Issues 9-11, Pages 1249-1822, September - November 2002. Cité dans : [DIV312] ESREF'2002, 13th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, du 7 au 11 octobre 2002, Bellaria, Rimini, Italie.Auteur : L. Tielemans, R. Rongen and W. De Ceuninck
Source : Microelectronics Reliability
Volume : 42
Issues : 9-12
Pages : 1339 - 1345
Date : September - November 2002
Lien : vide.pdf (875 K)
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