Article : [ART261]
Titre : W. WU, M. HELD, P. JACOB, P. SCACCO, A. BIROLINI, Investigation on the Long Term Reliability of Power IGBT Modules, Proc. ISPSD 95, pp. 443-448.
Cité dans :[PAP401] Cité dans :[ART233] Cité dans :[SHEET396]Auteur : W. Wu
Lien : PAP401.HTM#Bibliographie - référence [6].
Lien : ART233.HTM#Bibliographie - référence [5].
Lien : SHEET396.HTM#Bibliographie - référence [5].
Source : Proc. ISPSD 95
Date : 1995
Pages : 443 - 448
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 46 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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