P. MALBERTI, M. CIAPPA, R. CATTOMIO, "A power-cycling-induced failure mechanism of IGBT multichip modules", Proc. ISTFA, 163-168, Santa Clara, USA, 1995.

P. MALBERTI, M. CIAPPA, R. CATTOMIO, "A power-cycling-induced failure mechanism of IGBT multichip modules", Proc. ISTFA, 163-168, Santa Clara, USA, 1995. Copyright - [Précédente] [Première page] [Suivante] - Home

Article : [ART225]

Titre : P. MALBERTI, M. CIAPPA, R. CATTOMIO, A power-cycling-induced failure mechanism of IGBT multichip modules, Proc. ISTFA, 163-168, Santa Clara, USA, 1995.

Cité dans : [CONF043] ISTFA, International Symposium for Testing and Failure Analysis et IEE proc. IGBT propulsion drives, London, mai 2002.
Cité dans :[PAP404]
Cité dans :[SHEET361]
Cité dans :[ART227]

Auteur : P. Malberti
Auteur : M. Ciappa
Auteur : R. Cattomio

Lien : PAP404.HTM#Bibliographie - référence [2].
Lien : SHEET361.HTM#Bibliographie - référence [4].
Lien : ART227.HTM#Bibliographie - référence [14].
Switches : IGBT modules
Source : Proc. ISTFA, Santa Clara, USA.
Date : 1995
Pages : 163 - 168

Abstract :

Bibliographie

References :

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 46 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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