BRUGGERS H.J., RONGEN R.T.H., MEEUWSEN C.P., LUDIKHUISE A.W., "Reliability problems due to ionic conductivity of IC encapsulation materials under high voltage conditions", ISPSD'99.

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Article : [99ART110]

Titre : BRUGGERS H.J., RONGEN R.T.H., MEEUWSEN C.P., LUDIKHUISE A.W., Reliability problems due to ionic conductivity of IC encapsulation materials under high voltage conditions, ISPSD'99.

Cité dans : [CONF007] ISPSD, Internationnal Symposium on Power Semiconductor Devices & Integrated Circuits
Cité dans : [DIV137]  Recherche sur les mots clés : FIABILIT* ou RELIABILITY, octobre 1999.

Auteurs : Bruggers, H.J.; Rongen, R.T.H.; Meeuwsen, C.P.; Ludikhuize, A.W. - Philips Semiconductors

Appears : in Power Semiconductor Devices and ICs, 1999. ISPSD '99. Proceedings., The 11th International Symposium on
Page : 197 - 200
Date : May 26-28, 1999
ISBN : 0-7803-5290-4
Lien : private/BRUGGERS.pdf - 4 pages, 241 Ko.

Abstract :
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Keywords :
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