Revue : [REVUE304]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 38, Issue 5, Pages 709-841 (May 1998.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 38, Issue 5,
Pages : 709-841 (May 1998)
Export Citations
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[1] : Long-term base current instability in AlGaAs/GaAs HBTs: physical
mechanisms, modeling, and SPICE simulation, Pages 709-725
J. J. Liou
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (967 K)

[2] : Availability modeling of energy management systems, Pages 727-743
Ricardo M. Fricks and Kishor S. Trivedi
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (1184 K)

[3] : Characterization of the silicon nitride-thermal oxide interface in
oxide-nitride-oxide structures by ELS, XPS, ellipsometry, and numerical
simulation, Pages 745-751
V. A. Gritsenko, S. N. Svitasheva, I. P. Petrenko, Yu. N. Novikov, Yu. N.
Morokov, Hei Wong, R. W. M. Kwok and R. W. M. Chan
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (431 K)

[4] : Extraction method for source series resistance and transverse field
mobility reduction coefficient using the MOSFET saturation region, Pages
753-758
A. M. Ionescu, A. Chovet, A. E. Popescu, A. Rusu and D. Steriu
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (309 K)

[5] : Transient behavior and low VDS hysteresis in PD SOI MOSFETs, Pages 759-765
L. M. Perron, C. Hamaguchi, A. L. Lacaita, S. Maegawa and Y. Yamaguchi
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (409 K)

[6] : A different approach to the analysis of data in life-tests of laser
diodes, Pages 767-771
A. Bonfiglio, M. B. Casu, F. Magistrali, M. Maini, G. Salmini and M. Vanzi
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (301 K)

[7] : Use of C-SAM acoustical microscopy in package evaluations and failure
analysis, Pages 773-785
S. Atkins, L. Teems, W. Rowe, P. Selby and R. Vaughters
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (809 K)

[8] : The electrical properties of Al/Ni/Ge/n-GaAs interfaces, Pages 787-793
L. Dávid, B. Kovács, I. Mojzes, Zs. Kincses and L. Dobos
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (625 K)

[9] : Influence of the silicon nitride oxidation on the performances of NCLAD
isolation, Pages 795-805
A. Tixier, V. Senez, B. Baccus, A. Marmiroli, P. Colpani, A. Rebora and G.
P. Carnevale
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (603 K)

[10] : Better graphs for dependability modeling, Pages 807-820
Winfrid G. Schneeweiss
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (567 K)

[11] : Facet heating and axial temperature profiles in high-power GaA1As/GaAs
laser diodes, Pages 821-825
U. Menzel, R. Puchert, A. Bärwolff and A. Lau
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (330 K)

[12] : Electrical properties of thin Ta2O5 films obtained by thermal oxidation of
Ta on Si, Pages 827-832
E. Atanassova and D. Spassov
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (310 K)

[13] : Carrier mobility in inversion layers of Si-thin Ta2O5 structures, Pages
833-837
E. Atanassova and T. Dimitrova
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (353 K)

[14] : Book Review, Pages 839-840
Lien : vide.pdf - Format-PDF (120 K)

[15] : Book Review, Page 841
Lien : vide.pdf - Format-PDF (72 K)

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