Elsevier Science, "Microelectronics Reliability, Volume 38, Issue 9, Pages 1367-1512 (September 1998.
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Revue : [REVUE305]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 38, Issue 9, Pages 1367-1512 (September 1998.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.
Auteur : Elsevier Science

Volume : 38, Issue 9,
Pages : 1367-1512 (September 1998)
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[1] : Editorial, Pages 1367-1368
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M. C. Poon, M. Chan, W. Q. Zhang, F. Deng and S. S. Lau
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