Article : [SHEET487]
Titre : C. Fürböck, E. Gornik, M. Litzenberger, D. Pogany, Characterization of Microelectronic Devices, http://www.iaee.tuwien.ac.at/gme/jb99/rrwien7.htm .
Cité dans : [DATA204] fke, Institut für Festkörperelektronik (E362), 2000. Cité dans :[SHEET462] C. FURBOCK, K. ESMARK, M. LITZENBERGER, D. POGANY, G. GROOS, R. ZELSACHER, M. STECHER, E. GORNIK, Thermal and free carrier concentration mapping during ESD event in Smart Power ESD protection devices using an improved laser interferometric technique, ERAuteur : C. Fürböck
Adresse : Institute for Solid State Electronics, Vienna University of Technology, Floragasse 7, A-1040 Wien, Austria.
Adresse : Institut für Festkörperelektronik, Technische Universität Wien, Floragasse 7, A-1040 Vienna, Austria
Source : http://www.iaee.tuwien.ac.at/gme/jb99/rrwien7.htm
Lien : iaee/rrwien7.htm - octobre 2000.
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.
Copyright 2023 : |
Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.