Article : [SHEET460]
Titre : S. Dilhaire, S. Jorez, A. Cornet, L.D. Patiño Lopez, W. Claeys, Measurement of the thermomechanical strain of electronic devices by shearography
Cité dans : [DATA126] ESREF'2000, 11th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Dresden, Germany, 2-6 octobre 2000.Auteur : S. Dilhaire
Source : ESREF'2000, "11th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis", Dresden, Germany.
Date : 2-6 octobre 2000
Stockage : Thierry LEQUEU
Pages : 1509 - 1514
Info : France/Belgique Claeys Bordeaux : Mesure of the strain / CPMOH de Bordeaux
Info : mesure de déformation par shift phase lazer.
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