Article : [SHEET279]
Titre : K. REINMUTH, H. AMANN, The ruggedness of paralleled power MOSFET's, EPE Brighton, 1993, pp. 380-384.
Cité dans : [DIV133] EPE'93, European Conference on Power Electronics and Applications, Brigthon, Angleterre, 13-16 septembre 1993. Cité dans :[SHEET155]Auteur : Reinmuth K.
Lien : SHEET155.HTM#Bibliographie - référence [20]
Source : EPE Brighton.
Année : 1993
Pages : 380 - 384
Stockage :
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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