Article : [SHEET243]

Info : INSPEC Answer Number 22, le 16/03/2000.

Titre : D.E. PICCONE, L.H. SPEROW, L.O. ERICKSSON, R.O. FULTON, Predicting the behavior of power semiconductors under fault conditions, IAS, 1972

Cité dans : [DATA049] Recherche sur l'auteur Dante E. PICCONE, mars 2000.
Cité dans : [DATA051] IAS'72, IEEE, INDUSTRY APPLICATIONS SOCIETY, ANNUAL MEETING, 7TH, 1972.

Source : Proceedings of the 1972 Seventh Annual Meeting of the IEEE Industry Applications Society New York, NY, USA: IEEE, 1972.
Pages : 463 - 468 of xx+861 pp.
Conference : Philadelphia, PA, USA.
Date : 9-12 Oct 1972
Sponsor(s) : IEEE
Document_Type : Conference Article
Treatment_Code : Practical; Theoretical
Info : Country of Publication : United States
Language : English
Stockage : Thierry LEQUEU (28/04/2000)

Abstract :
The subject of the handling of faults in power conversion equipment
is broken into six categories following an opening introduction and
general discussion of the problem. Some of the intricacies discussed in a
Closure are (I) common waveforms experienced during faults, (II)
establishing surge ratings of power semiconductors, (III) surge failure
mechanism, (IV) basis of a computer program to predict surge failures, (V)
surge suppression and (VI) example of surge suppression calculation.

Accession_Number : 1973:474316

References : 0 refs.

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