Article : [SHEET172]
Titre : Z. LISIK, R. BARCZEWSKI, J. PODGORSKI, M. KOPEK, 3-D simulation of heat transfer in power semiconductor devices, EPE'95, septembre 1995, vol. 2, pp. 2.277-2.281.
Cité dans : [DATA035] Recherche sur les mots clés thermal + fatigue + semiconductor et reliability + thermal + cycle, mars 2004. Cité dans : [DIV134] EPE'95, European Conference on POWER ELECTRONICS AND APPLICATIONS, Seville, Espagne, september 1995.Auteur : Z. Lisik
Lien : EPE/EPE95_ct.txt
Stockage : Thierry LEQUEU, le 4 juillet 2000.
Source : EPE'95
Date : septembre 1995
Volume : 2
Pages : 277 - 281
Logiciel : oui
Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 59 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
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