Article : [SHEET170]
Titre : R. ABID, F. MISEREY, Temperature non contact measurements on the surface of a GTO thyristor in commutation,EPE'95, septembre 1995, pp. 2.191-2.196
Cité dans : [DATA035] Recherche sur les mots clés thermal + fatigue + semiconductor et reliability + thermal + cycle, mars 2004. Cité dans : [DIV134] EPE'95, European Conference on POWER ELECTRONICS AND APPLICATIONS, Seville, Espagne, september 1995.Auteur : R. Abid
Lien : EPE/EPE95_ct.txt
Stockage : Thierry LEQUEU
Source : EPE'95
Date : septembre 1995
Volume : 2
Pages : 191 - 196
Mise à jour le jeudi 14 novembre 2024 à 14 h 04 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.
Copyright 2024 : |
Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.