Revue : [REVUE530]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 44, Issue 8, Pages 1207-1280, August 2004.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 44
Issue : 8
Pages : 1207 - 1280
Date : August 2004

[1] : Fast wafer level reliability: methods and experiences
Pages : 1207-1208
Rolf-Peter Vollertsen
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[2] : An introduction to fast wafer level reliability monitoring for integrated circuit mass production
Pages : 1209-1231
Andreas Martin and Rolf-Peter Vollertsen
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[3] : Some practical considerations for effective and efficient wafer-level reliability control
Pages : 1233-1243
Summer F. C. Tseng, Wei-Ting Kary Chien, Excimer Gong, Willings Wang and Bing-Chu Cai
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[4] : Quantifying charging damage in gate oxides of antenna structures for WLR monitoring
Pages : 1245-1250
David Smeets and Josef Fazekas
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[5] : Bias temperature instability assessment of n- and p-channel MOS transistors using a polysilicon resistive heated scribe lane test structure
Pages : 1251-1262
Werner Muth and Wolfgang Walter
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[6] : Evaluation of performance–reliability trade-offs in a Si–Ge BiCMOS process using fast wafer level techniques
Pages : 1263-1268
Barry O'Connell, Prasad Chaparala and Bhola Mehrotra
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[7] : Applying the fWLR concept to Stress induced leakage current in non-volatile memory processes
Pages : 1269-1273
Guoqiao Tao, Andrea Scarpa, Leo van Marwijk, Kitty van Dijk and Fred Kuper
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[8] : Reliability of Computer Systems and Networks: Fault Tolerance, Analysis and Design; Martin L. Shooman. John Wiley and Sons Inc., New York; 2002. Hardcover, pp. 528, plus XXII. • BOOK REVIEW
Pages : 1275-1276
Mile Stojcev
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[9] : Power Distribution Networks in High Speed Integrated Circuits; Andrey Mezhiba, Eby Friedman. Kluwer Academic Publishers, Boston; 2004. Hardcover, 280pp, plus XXIII, 129 euro. ISBN 1-4020-7534-0 • BOOK REVIEW
Pages : 1277-1278
Mile Stojcev
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[10] : Digital design and computer architecture; Hassan A. Farhat. CRC Press, Boca Raton: 2004. Hardcover, 487pp, plus XXII. ISBN 0-8493-1191-8 • BOOK REVIEW
Pages : 1279-1280
Mile Stojcev
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