Revue : [REVUE339]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 37, Issue 9, Pages 1301-1420, September 1997.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 37, Issue 9,
Pages : 1301-1420 (September 1997)
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