Revue : [REVUE330]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 37, Issue 12, Pages 1799-1881 (December 1997.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 37, Issue 12,
Pages : 1799-1881 (December 1997)

[1] : Weaknesses of the conventional three-state model in station-oriented
reliability evaluation, Pages 1799-1804
R. Billinton and Chen Hua
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[2] : A survey of the thermal stability of an active heat sink, Pages 1805-1812
Erwin De Baetselier, Wim Goedertier and Gilbert De Mey
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[3] : Design of a new test structure for the study of electromigration with
early resistance change measurements, Pages 1813-1816
W. De Ceuninck, J. Manca, V. D'Haeger, J. Van Olmen, L. De Schepper and L.
M. Stals
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[4] : Procedure for evaluation of thermal management requirements in a laser
diode structure, Pages 1817-1823
Rajesh R. Kamath and Patricia F. Mead
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[5] : Efficient critical area measurements of IC layout applied to quality and
reliability enhancement, Pages 1825-1833
Gerard A. Allan and Anthony J. Walton
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[6] : Robustness of the exponential sequential probability ratio test (SPRT)
when Weibull distributed failures are transformed using a "known" shape
parameter, Pages 1835-1840
Daryl J. Hauck and J. Bert Keats
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[7] : LSI failure analysis using focused laser beam heating, Pages 1841-1847
Kiyoshi Nikawa and Shoji Inoue
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[8] : A note on expected Fisher information for the Burr XII distribution, Pages
1849-1852
A. J. Watkins
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[9] : Capability indices for non-normal distributions with an application in
electrolytic capacitor manufacturing, Pages 1853-1858
W. L. Pearn and K. S. Chen
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[10] : Shortest Bayes credibility intervals for the lognormal failure model,
Pages : 1859-1863
Keh-Wei Chen and Alex S. Papadopoulos
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[11] : Abstract, Pages 1865-1881
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