Revue : [REVUE325]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 36, Issue 5, Pages 581-710 (May 1996.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 36, Issue 5,
Pages : 581-710 (May 1996)
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