Revue : [REVUE322]
Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 36, Issue 2, Pages 121-282 (February 1996.
Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.Auteur : Elsevier Science
Volume : 36, Issue 2,
Pages : 121-282 (February 1996)
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