Revue : [REVUE320]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 36, Issue 1, Pages 1-119 (January 1996.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 36, Issue 1,
Pages : 1-119 (January 1996)
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