Revue : [REVUE319]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 35, Issues 9-10, Pages 1207-1375 (September - October 1995.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 35, Issues 9-10,
Pages : 1207-1375 (September - October 1995)
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