Revue : [REVUE311]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 35, Issue 12, Pages 1451-1520 (December 1995.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 35, Issue 12,
Pages : 1451-1520 (December 1995)
Export Citations
checked docs: display checked docs

[1] : Optimal reliability allocation of redundant units and repair facilities by
arbitrary failure and repair distributions, Pages 1451-1460
Sergey V. Gurov, Lev V. Utkin and Igor B. Shubinsky
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (315 K)

[2] : A recursive algorithm evaluating the exact reliability of a consecutive
k-within-m-out-of-n:F system, Pages 1461-1465
Jacek Malinowski and Wolfgang Preuss
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (115 K)

[3] : Stochastic analysis of a two-dissimilar unit warm standby redundant system
with two types of repair facilities, Pages 1467-1472
G. S. Mokaddis and M. L. Tawfek
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (275 K)

[4] : Reliability bounds and other inequalities for discrete life distributions,
Pages : 1473-1478
Debasis Sengupta, Anirban Chatterjee and Biman Chakraborty
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (305 K)

[5] : Reliability of imperfect switching of cold standby systems with multiple
non-critical and critical errors, Pages 1479-1482
Kee Chung Who
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (163 K)

[6] : Reliability analysis method in the presence of fuzziness attached to
operating time, Pages 1483-1487
H. -Z. Huang
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (229 K)

[7] : Stochastic analysis of a two-unit cold standby system subject to maximum
operation and repair time, Pages 1489-1493
S. K. SinghG. K. Agrafiotis
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (216 K)

[8] : Diffusion approximations to the dependability of a transport system, Pages
1495-1499
V. S. S. YadavalliN. Singh
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (231 K)

[9] : Modeling latent and patent failures of electronic products, Pages
1501-1510
Li Yan, J. R. English and T. L. Landers
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (371 K)

[10] : On the reliability of a cold standby system attended by a single
repairman, Pages 1511-1513
E. J. Vanderperre
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (125 K)

[11] : A mechanism of threshold voltage changes for WNx gate GaAs MESFETs in high
temperature storage life tests, Pages 1515-1520
Y. Kitaura, K. Ishida, T. Mizoguchi and N. UchitomiT. MatsunagaM.
MochizukiR. Nii
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (399 K)

Mise à jour le lundi 10 avril 2023 à 18 h 56 - E-mail : thierry.lequeu@gmail.com
Cette page a été produite par le programme TXT2HTM.EXE, version 10.7.3 du 27 décembre 2018.

Copyright 2023 :

Les informations contenues dans cette page sont à usage strict de Thierry LEQUEU et ne doivent être utilisées ou copiées par un tiers.
Powered by www.google.fr, www.e-kart.fr, l'atelier d'Aurélie - Coiffure mixte et barbier, La Boutique Kit Elec Shop and www.lequeu.fr.