Revue : [REVUE302]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 38, Issue 3, Pages 295-478 (March 1998.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 38, Issue 3,
Pages : 295-478 (March 1998)
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