Revue : [REVUE240]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issue 10, Pages 1423-1518 (October 1999.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 39
Issue : 10
Pages : 1423 - 1518
Date : October 1999

[1] : Physics-of-failure assessment of a cruise control module, Pages 1423-1444
K. Kimseng, M. Hoit, N. Tiwari and M. Pecht
Lien : vide.pdf - | Journal Format-PDF (683 K)

[2] : Degradation and breakdown in thin oxide layers: mechanisms, models and reliability prediction, Pages 1445-1460
R. Degraeve, B. Kaczer and G. Groeseneken
Lien : private/DEGRAEVE2.pdf - 16 pages, 288 Ko

  [1] :  [ART187]  R. DEGRAEVE, B. KACZER, G. GROESENEKEN, Degradation and breakdown of thin oxide layers : mechanisms, models and reliability prediction, Microelectronics and Reliability, No. 39, 1999, pp. 1445-1460.

[3] : Impact of power electronics packaging on the reliability of grid connected photovoltaic converters for outdoor applications, Pages 1461-1472
M. Meinhardt, V. Leonavicius, J. Flannery and S. C. Ó Mathúna
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (589 K)

[4] : Modification of scheduled data flow graph for on-line testability, Pages 1473-1484
A. A. Ismaeel, R. Bhatnagar and R. Mathew
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (241 K)

[5] : Relaxation of operational amplifier parameters after pulsed electron beam irradiation, Pages 1485-1495
C. A. Betty, K. G. Girija and R. Lal
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (234 K)

[6] : Dislocations structure investigation in neutron irradiated silicon detectors using AFM and microhardness measurements, Pages 1497-1504
G. Golan, E. Rabinovich, A. Inberg, A. Axelevitch, M. Oksman, Y. Rosenwaks, A. Kozlovsky, P. G. Rancoita, M. Rattaggi, A. Seidman and N. Croitoru
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (784 K)

[7] : Investigation of morphology and fractal behaviour on compound semiconductor surface after electrochemical layer removal, Pages 1505-1509
Ákos Nemcsics, Imre Mojzes and László Dobos
Lien : vide.pdf - | Article | Journal Format-PDF (217 K)

[8] : Book Review, Page 1511
Journal Format-PDF (67 K)

[9] : Book Review, Page 1513
Journal Format-PDF (71 K)

[10] : Book Review, Pages 1515-1516
Journal Format-PDF (72 K)

[11] : Book Review, Pages 1517-1518
Journal Format-PDF (70 K)

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