Revue : [REVUE235]

Titre : Elsevier Science, Microelectronics Reliability, Volume 39, Issue 3, Pages 327-429, March 1999.

Cité dans : [DATA197] Les revues Microelectronics Reliability et Microelectronics Journal, ELSEVIER, décembre 2004.

Volume : 39
Issue : 3
Pages : 327 - 429
Date : March 1999

[1] : Gate oxide reliability concerns in gate-metal sputtering deposition
process: an effect of low-energy large-mass ion bombardment, Pages 327-332
Takeo Ushiki , Mo-Chiun Yu, Kunihiro Kawai, Toshikuni Shinohara , Kazuhide
Ino Mizuho Morita and Tadahiro Ohmi
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[2] : Degradation of InGaAs/InP single heterojunction bipolar transistors under
high energy electron irradiation, Pages 333-339
A. Bandyopadhyay, S. Subramanian, S. Chandrasekhar, A. Dentai and S. M.
Goodnick
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[3] : Random telegraph signal noise instabilities in lattice-mismatched
InGaAs/InP photodiodes, Pages 341-345
D. Pogany and G. Guillot
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[4] : Texture and electromigration lifetime improvements in layered Al-alloy
metallization with underlying Ti by controlling water adsorption on SiO2
substrates, Pages 347-356
Tomoyuki Yoshida, Shoji Hashimoto, Yasuichi Mitsushima, Takeshi Ohwaki and
Yasunori Taga
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[5] : Oxide thickness dependence of plasma charging damage, Pages 357-364
H. -C. Lin, C. -C. Chen, M. -F. Wang, S. -K. Hsien, C. -H. Chien, T. -Y.
Huang and C. -Y. Chang
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[6] : Improvement of gate dielectric reliability for p+poly MOS devices using
remote PECVD top nitride deposition on ultra-thin (2.4¯6 nm) gate oxides,
Pages : 365-372
Y. Wu and G. Lucovsky
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[7] : A new algorithm for transforming exponential current ramp breakdown
distributions into constant current TDDB space, and the implications for
gate oxide QBD measurement methods, Pages 373-381
N. A. Dumin
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[8] : Dislocation dynamics in heterojunction bipolar transistor under current
induced thermal stress, Pages 383-389
C. T. Tsai and L. L. Liou
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[9] : Evaluation of reliability of BGA solder joints through twisting and
bending, Pages 391-399
U. Daya Perera
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[10] : Frequency dependence of the lifetime of a surface micromachined
microengine driving a load, Pages 401-414
Danelle M. Tanner, William M. Miller, Ken A. Peterson, Michael T. Dugger,
William P. Eaton, Lloyd W. Irwin, Donna C. Senft, Norman F. Smith, Paiboon
Tangyunyong and Samuel L. Miller
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[11] : New layout design for submicron CMOS output transistors to improve driving
capability and ESD robustness, Pages 415-424
M. -D. Ker, T. -Y. Chen and H. -H. Chang
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[12] : Book Review, Page 425
Journal Format-PDF (70 K)

[13] : Book Review, Page 427
Journal Format-PDF (66 K)

[14] : Book Review, Page 429
Journal Format-PDF (66 K)

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